Вторинно-електронна спектроскопія поверхні: характеристичні втрати
Автори: М.О. Васильєв, В.О. Тіньков, С.М. Волошко
Анотація: У монографії узагальнено результати багаторічних систематичних досліджень за участі авторів та проаналізовано велику кількість літературних джерел щодо фізичної природи тонкої спектральної структури в області характеристичних втрат енергії первинних електронів в інтервалі 5—1000 еВ, що відображає специфічні поверхневі властивості монокристалічних сплавів, монокристалічного кремнію Si(111) та багатошарових металевих плівок. Розглянуто фізичні основи неруйнівних методів низькоенергетичної електронної спектроскопії для пошарового аналізу фізико-хімічних властивостей нанорозмірної поверхневої області з моношаровим розділенням. За даними іонізаційної спектроскопії встановлено механізм та кінетику пошарової термостимульованої поверхневої сегрегації компонентів сплавів та визначено кількісні дифузійні параметри компонентів. Показано, що за допомогою спектроскопії плазмових втрат можна встановити границю поділу поверхня-об’єм у монокристалічних сплавах, а також провести кількісне пошарове дилатометричне дослідження приповерхневої області. Досліджено енергетично залежний поверхневий та об’ємний плазмонний спектр втрат енергії для монокристалу Si(111) в інтервалі енергії первинних електронів E0 = 145—570 еВ.
Читацька аудиторія: Для науково-технічних працівників у галузі матеріалознавства, фізики металів, фізики поверхні, фізики твердого тіла, а також для викладачів, студентів і аспірантів фізичних та інженерних спеціальностей вищих навчальних закладів.
ISBN 978-620-0-63126-8
Відповідальна установа: Ін-т металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Видано: Chisinau : GlobeEdit
Інші установи: Національний технічний ун-т України «Київський політехнічний ін-т ім. І. Сікорського»
Кількість сторінок: 189
Тираж: 100